Mikroskopie Angebote

Verfügbare mikroskopische Methoden:

  • Optische Lichtmikroskopie
  • SEM – Rasterelektronenmikroskopie
  • TEM – Transmissionselektronenmikroskopie
  • EDS – Energiedispersive Röntgenspektroskopie

  • Mikro-FTIR – Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie
  • SWLIM – Weißlicht-Interferenz-Mikroskopie
  • Konfokale Raman-Mikroskopie / Spektroskopie

Optische Lichtmikroskopie:

Die Klassifizierung und Identifizierung von kleinen Partikeln beginnen mit der Beobachtung des Partikels durch ein Mikroskop unter Verwendung einer Kombination von transmittierten und reflektierten Licht. Partikel, die durch das Mikroskop fotografiert wurden, können ausgemessen und für einen Bericht oder eine Veröffentlichung aufgearbeitet werden, insbesondere wenn die Partikel einzigartige Eigenschaften aufweisen. Wir verfügen über verschiedene Varianten von Lichtmikroskopen, um die erforderlichen Vergrößerungen Ihrer Probe zu erzielen.

Rasterelektronenmikroskoipe (SEM/REM):

Wenn tiefergehende Untersuchungen von Partikeln benötigt werden, um eine Beobachtung zu bestätigen, die durch Lichtmikroskopie gemacht wurde, oder wenn Partikel sehr klein oder opak sind, können diese Partikel unter Verwendung von Elektronen anstelle von Licht abgebildet werden. Der unmittelbare Unterschied besteht darin, dass die vom REM erzeugten Bilder graustufig sind. Die Bilder zeigen eine Tiefenschärfe und Details, die der Lichtmikroskopie weit überlegen sind, mit dem zusätzlichen Vorteil, dass die Interaktion der Probe mit den beschleunigten Elektronen Röntgenstrahlen erzeugt, die für die in der Probe vorhandenen Elemente charakteristisch sind. Durch den Einsatz eines energiedispersiven Röntgenspektrometers (EDX) können die in der Probe vorhandenen Elemente sowie ihr jeweiliges Verhältnis zueinander während der Abbildung der Probe bestimmt werden.

Transmissionselektronenmikroskopie (TEM):

Partikel, die zu klein sind, um durch Lichtmikroskopie oder Rasterelektronenmikroskopie analysiert und abgebildet zu werden, müssen im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) abgebildet und analysiert werden. Für dünne Proben oder Proben, die in dünne Schichten überführt werden können, können TEM-Bildgebungstechniken die kristalline Struktur der Probenpartikel sowie seine elementare Zusammensetzung (EDX) aufklären. Tonerde, Pigmente, dünne Filme und andere Partikel im Nanometerbereich können mittels TEM analysiert und identifiziert werden. Einige, vor allem leitfähige Materialien wie dünne Mineralfasern, Tonpartikel und Ruß brauchen nur sehr wenig Vorbereitung für die Analyse. Andere Materialien erfordern vor der Analyse eine mitunter aufwändige Probenvorbereitung.

Mikro-Fourier-Transformations-Infrarot-Spektroskopie (FTIR):

Partikel, die plastisch (leicht verformbar) sind, können mit einem Mikroskop, das reflektiertes und transmittiertes Infrarotlicht verwendet, charakterisiert werden. Polymere Materialien, die charakterisiert und identifiziert werden müssen, können für FTIR vorbereitet werden. Das resultierende Infrarotspektrum kann mit Tausenden von Referenzspektren verglichen werden, um den Typ des Polymers und seine Bestandteile zu bestimmen. Hersteller, die gelegentlich unerwünschte Partikel in ihren fertigen Produkten auffinden, können anhand des Vergleichs des Probenspektrums mit einer Referenzdatenbank an Infrarotspektren diese Fremdpartikel identifizieren, um den Produktionsprozess zu optimieren.

Weißlicht-Interferenz-Mikroskopie (SWLIM):

Die Charakterisierung von Oberflächen erfordert eine etwas andere Vorgehensweise. Hierbei wird ein Mikroskop verwendet wird, das die Oberflächenrauigkeit messen und ein dreidimensionales Bild der Oberfläche liefern kann. Dieses Mikroskop verwendet reflektiertes weißes Licht, während es durch den Fokus scannt, um einen dreidimensionalen Datensatz zu erzeugen aus dem Oberflächenrauheitsparameter berechnet werden können. Im Gegensatz zum Tastschrittverfahren (Profilometer) ist SWLIM eine kontaktfreie Technik, bei der keine oder nur eine geringe Probenvorbereitung erforderlich ist.